[U's Line 유스라인 장윤선 기자] 단 한 번의 분석만으로도 신뢰도 높은 표적물질 검출이 가능해진다.

건국대학교가 KU융합과학기술원 전봉현 교수(시스템생명공학과)와 서울대 정대홍 교수 공동 연구팀이 한 번의 광학분석으로 표적물질을 정확하고 빠르게 검출할 수 있는 기술을 개발했다고 어제 밝혔다. 전 교수팀의 이번 논문은 재료과학 분야 국제 학술지 ‘ACS Applied Materials & Interfaces’ (ACS Appl. Mater. Interfaces 2018, 10, 40748−40755)에 보충표지논문으로 11월 28일 자로 실렸다.

전 교수팀이 연구에서 활용한 핵심 기술은 금속 나노입자 주변에 위치한 특정 물질을 고유 광학 신호로 검출할 수 있는 ‘표면증강라만산란(SERS)’ 이다. 연구팀은 미량의 물질도 즉각적으로 분석 가능한 이 기술을 통해 내부 금속층은 정확한 정량분석이 가능하도록 표준 신호를 가지도록 했다. 또 바깥 금속층은 표적물질의 고유광학 신호를 검출할 수 있도록 다층 금속나노 구조체를 만들었다.

연구팀은 또 3차원 검량선의 비례분석을 통해 내부표준과 표적물질의 SERS신호 세기만으로 쉽고 간단하게 표적물질의 농도를 알 수 있는 시스템을 개발했다. 실제 연구팀은 단 한 번의 광학 분석으로 농약성분인 티람(thiram)의 정량 검출 가능성을 보였다.

전봉현 교수는 “SERS 내부표준을 포함하는 다층 나노입자와 3차원 검량선의 비례분석 기술은 다양한 표적물질의 정량 고속 검출 시스템에 폭넓게 활용 가능할 것으로 기대한다”며 “추후 농가에서 출하하는 상품들의 농약 성분 등 유해물질을 빠르게 검출할 때도 활용할 수 있을 것”이라고 말했다.

한국연구재단의 연구지원으로 이루어진 이번 연구에는 전봉현 교수와 정대홍 교수, 함은일 연구원과 차명근 연구원 등이 참여했다.

 

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